آزمایش سیستمهای الکترونیکی دیجیتال عموماً شامل اعمال مجموعهای از محرکهای آزمایشی برای ورودیهای دستگاه تحت آزمایش (DUT) و تجزیه و تحلیل پاسخهای سیستم با استفاده از تحلیلگر پاسخ است. اگر DUT پاسخ های خروجی درستی (که پاسخ طلایی نیز نامیده می شود) برای همه محرک های ورودی ایجاد کند، DUT بدون خطا در نظر گرفته می شود. DUTهایی که نتوانند پاسخ طلایی را برآورده کنند، معیوب یا معیوب در نظر گرفته می شوند. این پروژه یک تستر آی سی دیجیتال را برای آزمایش آی سی های دیجیتال سری 74xx با استفاده از رویکرد مبتنی بر منوی کشویی رابط کاربری گرافیکی متلب (GUI) توصیف می کند. بلوک دیاگرام برای آزمایش یک دستگاه در شکل 1 نشان داده شده است.
بلوک دیاگرام برای تست یک دستگاه
MATLAB به عنوان مولد محرک آزمایشی برای آی سی که DUT است عمل می کند. رابط کاربری گرافیکی ارتباط با آردوینو را آغاز می کند و یک رویکرد کاربرپسند و تعاملی برای انجام تست ارائه می دهد. برنامه منبع MATLAB (ic_tester.m) به عنوان تحلیلگر پاسخ عمل می کند و نتایج آزمایش را در پنل جلویی رابط کاربری گرافیکی نمایش می دهد.
نمونه اولیه نویسندگان تستر آی سی دیجیتال مبتنی بر آردوینو و پنل جلویی رابط کاربری گرافیکی مبتنی بر MATLAB به ترتیب در شکل های 2 و 3 نشان داده شده است.
نمونه اولیه نویسندگان از تستر آی سی دیجیتال
رابط کاربری گرافیکی مبتنی بر MATLAB برای آزمایش IC ها
مدار تستر آی سی دیجیتال و کار
نمودار مدار تستر آی سی دیجیتال مبتنی بر آردوینو در شکل 4 نشان داده شده است.
نمودار مدار تستر آی سی دیجیتال