مقاله انگلیسی با ترجمه : متدولوژی درج خرابی شبیه سازی شده برای ارزیابی قابلیت اطمینان مدار کوانتوم سطح گیت
*** مقاله انگلیسی با ترجمه فارسی *** Simulated fault injection methodology for gate-level quantum circuitreliability assessment متدولوژی درج خرابی شبیه سازی شده برای ارزیابی قابلیت اطمینان مدار کوانتوم سطح گیت ( رشته : برق و الکترونیک ) 11 صفحه انگلیسی با فرمت PDF 20 صفحه ترجمه فارسی با فرمت Word 2007 چکیده: در محاسبات کوانتوم، اهمیت تحمل پذیری خرابی بعلت قابلیت اطمینان پایین مولفه های مدار کوانتوم زیاد می باشد. بنابراین، ابزارها و متدولوژی های ارزیابی تحمل پذیری خرابی متعدد توسعه یافته اند؛ اکثر آنها براساس مدل خرای اتخاذ شده و براساس برخی فرضیه های ساده سازی، تحلیلی می باشند. شبیه سازی می توانست یک راهکار واقعی تر و دقیق تر باشد در صورتیکه با پیچیدگی بالای شبیه سازی مدارهای کوانتوم مواجه نمی شد. با این حال، پیاده سازی زبان توصیف سخت افزاری (HDL) برای درج خرابی شبیه سازی شده (SFI) برای مدارهای کوانتوم با محدودیت سایز پیشنهاد شده و مورد تست قرار گرفته است. این مقاله، یک متدولوژی مبتنی بر SFI، ترکیبی شبیه سازی – تحلیلی جدید برای ارزیابی تحمل پذ ...
📋 پیشنهاد میکنم مطالب دیگر برق و الکترونیک را از قسمت سرچ سایت جستجو بفرمایید.